厦门市产品质量监督检验院国家半导体发光器件

国家半导体发光器件..

普通照明用LED产品光辐射安全要求及测量方法通过审查

2014年7月11日至16日，全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会(SAC/TC284)2014年会,于浙江省宁波市举行。国家LED质检中心陈志忠代表刘毅清委员出席会议。

本次会审通过了“高能激光光束质量评价与测试方法”、“激光产品的安全第九部分：非相干光辐射最大允许照射量汇编”、“普通照明用LED产品光辐射安全要求”及“普通照明用LED产品光辐射安全测量方法”四项国家标准。

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